ビジョン技術の実利用ワークショップViEW2015にて、オムロンがダブル受賞

オムロン株式会社は、12月3日、4日に開催された公益社団法人 精密工学会 画像応用技術専門委員会主催のViEW2015にて最優秀論文として小田原賞、「外観検査アルゴリズムコンテスト2015」最優秀賞、をダブル受賞しました。

ビジョン技術の実利用化ワークショップ(ViEW)は、画像センシング技術の実用化を重視し企業からの最先端技術の発表も多い国内有数の画像センシング関連の学会です。このたび、本学会において、オムロンの小西嘉典、半澤雄希、川出雅人と、中京大の橋本学教授による「単眼カメラからの高速3次元物体位置・姿勢認識」と題する論文が最優秀論文として小田原賞を受賞しました。小田原賞はViEWの全発表の中で最も実用レベルの高い研究成果1件に授与されるもので、過去の受賞研究は半導体検査装置や車載センサなど、これまで高い実用化レベルで商品化されてきているものばかりであり、今回の受賞もFA領域での視覚センサ適用における技術レベルの高さが評価されたものです。本技術は、3Dセンサを使わずとも市販のカメラから対象の3次元位置・姿勢を高速・高精度に推定するオムロン独自のアルゴリズムであり、対象の見え方から位置・姿勢に最適な特徴を適時選択し、膨大な位置・姿勢候補の中から対象外の候補を効率的に除外することで高速・高精度を実現したことが特長です。本技術は、視覚センサにおけるロボット・ピッキングや検査などのアプリケーションに適用可能です。

また、ViEW本会議内で企画されている「外観検査アルゴリズムコンテスト」は、精密工学会の画像応用技術専門委員会が画像を用いた外観検査技術の発展を図るため、研究者・技術者が共通で使える外観検査画像データベースの構築を進める活動の一環で2001年から実施しているものです。2015年度は、鋳造部品の良品サンプルを撮影した画像を用いて欠陥を検出する精度を競い、オムロンの藤枝紫朗が開発したプログラムが最もすぐれていたことから最優秀賞を受賞しました。

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